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发明专利
基于单缝衍射原理利用CCD测量微小位移的方法
发布日期:2019-12-05 来源:4087.0 点击:
一种基于单缝衍射原理利用CCD测量微小位移的方法,通过两条平行单缝,一条为定标狭缝(缝宽已知),另一条为测量狭缝(缝宽可变),两条单缝分别衍射,两条狭缝得到的不同衍射图像会由凸透镜汇聚到透镜的焦平面上,然后由CCD器件进行采集。图像传输到软件中进行下一步的分析计算,最后计算出缝宽的变换,也就是微小位移量。操作方便,实现自动化测量,同时利用衍射系统测量位移,其测量精度高,在测量中实现了自动化、智能化、高精度的测量微小位移量。
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